שירלי המר-צפלוביץ'

Applied Materials

טכנולוגית ה-eBeam

בעולם המתבסס על שימוש ברזולוציות גבוהות במיוחד, טכנולוגיית ה-eBeam היא בורג מרכזי והבסיס לחלק גדול מהמוצרים שלנו. צפו בוידאו המלא המפרט ומסביר כיצד עובדת הטכנולוגיה, המבוססת על שימוש בקרן אלקטרונים:
Applied Materials

UVISION 7 מכונה חדשה לגילוי פגמים לדור ה 10 ננומטר

עם התקדמות הטכנולוגיה והירידה בעובי הקוים המודפסים בתהליכי המוליכים למחצה עד ל-10 ננומטרים ומעבר, עולה הצורך של יצרניות השבבים לסריקת פגמים ברמה גבוהה. צורך זה נובע בין השאר מהכניסה של מבנים סבוכים וחומרים חדשים לייצור המוני. מפעלי הייצור לשבבים (ה-Fabs) של היום דורשים טכנולוגית בקרת תהליך המזהה פגמים קריטיים בכמויות בעלת משמעות סטטיסית, משפרת את מהירות הייצור ומגדילה את התפוקה.
מכונת ה-VeritySEM 5i שלנו: מה היא עושה, איך היא פועלת ולמה היא מסמלת את תחילתו של מהפך טכנולוגי

מכונת ה-VeritySEM 5i שלנו: מה היא עושה, איך היא פועלת ולמה היא מסמלת את תחילתו של מהפך טכנולוגי

בחודש פברואר 2015 השקנו מכונה חדשה מתחום המטרולוגיה מבוססת קרן אלקטרונים CD SEM Metrology. למה היא נדרשת, מה היא מחדשת ומה היא מאפשרת ליצרני השבבים, בוידאו המצורף.
דור שישי בארץ – SEMVision™ G6

דור שישי בארץ – SEMVision™ G6

כבכל שנה, נערכה השבוע בסאן פרנסיסקו התערוכה הגדולה של תעשיית הסמיקונדקטורס – סמיקון מערב Semicon West. בשנה שעברה השקנו במקביל לתערוכה את מכונת הסריקה לפגמים UVision 5 , והשנה אנחנו גאים להציג את מכונת הדמיית הפגמים (defect review) החדשה שלנו – SEMVision G6.
קטן יותר, צפוף יותר, שווה יותר

קטן יותר, צפוף יותר, שווה יותר

במסגרת תערוכת Semicon West 2012 , השיקה אפלייד מטיריאלס ארבעה מוצרים חדשים, בניהם גם מוצר חדש מתחום בקרת האיכות, התחום שלנו – Applied UVision® 5 Inspection. מוצר זה, הדור החדש של משפחת ה UVision שמשמשת את הלקוחות שלנו לצרכי בקרת איכות תהליכים מאז 2005, מיועד לעבודה בקווים המייצרים בתהליכים של 2x ננומטר ומפתחים את תהליכי העתיד של 1x ננומטר, ונמצאת כבר בשימוש אצל יצרני שבבים מהמובילים בעולם.