מוליכים למחצה סמיקונדקטורס

Applied Materials

טכנולוגית ה-eBeam

בעולם המתבסס על שימוש ברזולוציות גבוהות במיוחד, טכנולוגיית ה-eBeam היא בורג מרכזי והבסיס לחלק גדול מהמוצרים שלנו. צפו בוידאו המלא המפרט ומסביר כיצד עובדת הטכנולוגיה, המבוססת על שימוש בקרן אלקטרונים:
Metro Conference - Technion 2016

Metro Conference - Technion 2016

הכנס הרביעי של המאגד הישראלי העוסק בפיתוח תשתית למערכות מדידה לפרוסות 450 ממ בחסות אפלייד מטיריאלס, התרחש בטכניון בפברואר 2016. הכנס עסק בשת"פ חברות המטרו הישראליות – נובה, Jordan Valley וNano Motion- וכמובן אפלייד שמובילה את פעילות מאגד Metro 450.
May the Force be with Us

May the Force be with Us

2015 היתה שנה רווית אירועים דרמטים. ידענו אבל וצער בקנה מידה עולמי על מקרי אלימות, רצח ומוות רבים. ב - 2015 נדהמנו מעוצמת כוחות הטבע, בעת רעידת האדמה הגדולה בנפאל. 2015 גם ידעה ארועים חיוביים רבי משמעות: לראשונה בהיסטוריה, נשות ערב הסעודית יצאו להצביע; סין ביטלה את חוק הילד האחד השערורייתי; 195 מדינות חתמו על הסכם גלובלי לצימצום התחממות כדור הארץ.והאריסון פורד וקארי פישר חזרו.
היסטוריה של מזעור

היסטוריה של מזעור

איך שהזמן עובר כשנהנים…את השיעור הראשון בקורס מוליכים למחצה באוניברסיטה, לפני כעשרים שנה אני זוכר היטב לא בזכות הנוסחאות או השירטוטים כי אם בזכות גימיק זול של המרצה שהתחיל את ההרצאה בשאלה "מה היה קורה לתעשיית הרכב אילו התקדמה באותו קצב כמו תעשיית המחשבים?". התשובה היתה כמובן, שהיינו נוסעים במכוניות שעולות כמה מאות שקלים, נוסעות במהירות הקול ועם צריכת דלק של אלפי קילומטרים לליטר, הקאץ׳ כמובן הוא שגודל המכונית היה כגודל מכונית צעצוע…
כשאפלייד מטיריאלס פוגשת את NASA: על הארכת זמן החיים המוגבל של חיישני תמונה באור אולטרה-סגול עמוק

כשאפלייד מטיריאלס פוגשת את NASA: על הארכת זמן החיים המוגבל של חיישני תמונה באור אולטרה-סגול עמוק

שיקולי תכנון וביצועים מדודים של חיישן CMOS עתידי לבדיקות מסכות פוטוליגרפיה ופרוסות סיליקוןמאת:שרגא צור וטל קוזניץעבודה זו הוצגה בכנס אואזיס 5 ב4 במרץ 2015
מכונת ה-VeritySEM 5i שלנו: מה היא עושה, איך היא פועלת ולמה היא מסמלת את תחילתו של מהפך טכנולוגי

מכונת ה-VeritySEM 5i שלנו: מה היא עושה, איך היא פועלת ולמה היא מסמלת את תחילתו של מהפך טכנולוגי

בחודש פברואר 2015 השקנו מכונה חדשה מתחום המטרולוגיה מבוססת קרן אלקטרונים CD SEM Metrology. למה היא נדרשת, מה היא מחדשת ומה היא מאפשרת ליצרני השבבים, בוידאו המצורף.
האתגרים שבמציאת פגמים על פרוסות סיליקון כתוצאה מהתפשטות תרמית

האתגרים שבמציאת פגמים על פרוסות סיליקון כתוצאה מהתפשטות תרמית

בסוף שנות ה- 90, כשיצאה לשוק מכונת ה-SEMVision הראשונה לגילוי אוטמטי של פגמים על פרוסות סיליקון, גודל קריטי מינימלי של פגם (Defect) עמד על כמה מאות ננומטרים.